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以往的课程主要以基础为主，我们开设的第三阶段课程围绕芯片ATE测试的硬件设计、程序开发与调试，分析相关的流程和细节，并结合实际工作中的一些IP调试经验进行分析，并延伸到特征化分析、可靠性及量产导入与生产管控的相关介绍。
本课程主要分为以下8个部分
1. ATE测试方案制定(包含IP测试方案)（4课时）
2. ATE测试硬件设计（4课时）
3. ATE测试程序开发（4课时）
4. ATE测试程序调试（4课时）
5. IP调试经验分享（4课时）
6. 特征化分析流程与执行细节（4课时）
7. 可靠性测试流程与执行细节（4课时）
8. 量产导入与生产管控（4课时）
本课程总共规划8个部分，总计32课时，每个部分4课时。
课程的第1部分为公开课，主要是芯片ATE测试方案制定流程与细节，包含SOC level测试方案与IP level测试方案两方面内容。
第2部分主要介绍ATE测试硬件的设计流程与执行细节，从Design Spec制定、原理图Review、Layout Review、SI/PI仿真Review到最终的生产交付跟踪。
第3部分主要介绍ATE测试程序开发的流程与细节，从程序框架搭建、测试项与测试流程添加到最终的offline运行检查。
第4部分主要介绍ATE测试程序调试的流程与细节，包括Open-Short测试调试、DC测试调试、AC测试调试、功能测试调试几个环节。
第5部分主要介绍实际工作中的一些IP调试经验，包括PCIE/DDR等接口IP以及ADC/DAC等模拟IP。
第6部分主要介绍特征化分析流程与执行细节，包括特征化方案制定、样品准备、程序准备、Sample Data收集与Review、PVT数据收集与分析、Shmoo数据收集与分析、良率验证数据收集与分析、报告整理与评审。
第7部分主要介绍可靠性测试流程与执行细节，包括可靠性测试标准、测试方案、硬件设计以及详细流程。
第8部分主要ATE测试量产导入与生产管控，包括如何把一整套ATE测试软硬件解决方案顺利导入到工厂并实现稳定生产，以及如何对生产过程中遇到的问题进行管控。
杰哥
讲师硕士毕业于上海交通大学自动化系，毕业后在德州仪器上海研发中心从事芯片ATE测试工作超过5年，目前在国内一家AI芯片企业继续从事芯片ATE测试技术专家与管理相关工作。 讲师在芯片ATE测试领域深耕十年，累计超过10款以上不同芯片项目从研发到大规模量产的成功经验。
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