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本课程主要分为以下8个部分：
1.芯片生产测试流程介绍——从沙子到芯片（2课时）
2.半导体和测试设备介绍（2课时）
3.ATE测试基础知识介绍（4课时）
4.芯片产品规格书介绍（4课时）
5.Open-Short测试介绍（4课时）
6.DC参数测试介绍（4课时）
7.AC参数测试介绍（5课时）
8.功能测试理论介绍（5课时）
本课程总共规划30个课时。其中第1第2部分约4个课时，第3~第6部分约16课时，第7第8部分约10个课时。
杰哥
讲师硕士毕业于上海交通大学自动化系，毕业后在德州仪器上海研发中心从事芯片ATE测试工作超过5年，目前在国内一家AI芯片企业继续从事芯片ATE测试技术专家与管理相关工作。 讲师在芯片ATE测试领域深耕十年，累计超过10款以上不同芯片项目从研发到大规模量产的成功经验。
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